Inyección de fallos.

La inyección de fallos empuja deliberadamente al sistema fuera de su envolvente de operación —mediante perturbaciones de tensión, manipulación del reloj, pulsos electromagnéticos (EMFI) o un láser enfocado sobre el silicio expuesto— para que se salte una única instrucción o se invierta un bit de memoria en el instante elegido. El atacante convierte ese error controlado en un fallo de seguridad: eludir una decisión (saltar la verificación del PIN o la firma del arranque seguro) o corromper un cálculo criptográfico. En el análisis diferencial de fallos, descrito por Boneh, DeMillo y Lipton en 1997 contra RSA-CRT, comparar una firma correcta con una defectuosa revela la clave privada; la misma idea rompe AES con unos pocos cifrados corrompidos.

El faulting ya no es solo físico. CLKSCREW (2017) y VoltJockey abusaron de los propios registros de gestión de energía de la CPU para atacar ARM TrustZone por software, y Plundervolt de Intel (CVE-2019-11157, 2019) redujo la tensión desde el anillo 0 para corromper cálculos dentro de SGX hasta que Intel desactivó la interfaz por microcódigo. La investigación wallet.fail (35C3, 2018) hizo glitching a dispositivos Trezor y Ledger para alcanzar los secretos almacenados. Rowhammer demuestra que hasta el acceso normal a memoria puede inducir fallos.

Las contramedidas incluyen cómputo redundante o aleatorizado, sensores de detección de fallos, monitores de tensión y reloj, memoria ECC y código defensivo que reverifica cada rama de seguridad.

flowchart TD
  A[Atacante con acceso al dispositivo] --> B{Vector de fallo}
  B -->|Tensión / undervolt| C[Caída o pico de VCC]
  B -->|Glitch de reloj| D[Pulso de sobrefrecuencia]
  B -->|EMFI / láser| E[Pulso localizado en el die]
  C --> F[Salto de instrucción o bit invertido]
  D --> F
  E --> F
  F --> G{Efecto explotado}
  G -->|Saltar control| H[Eludir PIN / arranque seguro]
  G -->|Corromper cripto| I[El análisis de fallos filtra la clave]
  H --> J[Sistema comprometido]
  I --> J